采购内容：场发射透射电子显微镜(含原位样品杆)

采购数量：1套

主要功能或目标：设备具备原子尺度TEM/STEM超高分辨成像、SAED/CBED电子衍射、EDS微区成分分析及4D-STEM多维数据采集功能，支持DPC/iDPC相位衬度成像与取向/应变分析。配备原位样品杆，可在力场（拉伸/压缩）与热场（室温至800℃）耦合条件下实时观测材料结构演化。配套等离子清洗仪、电解双喷仪及精密切割机，满足样品前处理需求。

需满足的要求：加速电压20–200kV连续可调，配置高亮度场发射电子枪；点分辨率≤0.25nm、线分辨率≤0.10nm、STEM-HAADF分辨率≤0.16nm。配备五轴压电陶瓷样品台、多模式STEM探头、四探头无窗EDS及1600万像素CMOS相机；真空系统无油设计，换样无需关高压。原位样品杆须支持力场（拉伸/压缩）与热场（≥800℃）耦合加载及双轴倾转。软件具备自动合轴、晶带轴倾转及TEM/STEM快速切换