数智化半导体参数实测分析平台
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2026-09-15
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数智化半导体参数实测分析平台

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基本信息:

申购主题:数智化半导体参数实测分析平台

送货时间:合同签订后30天内送达

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安装要求:免费上门安装(含材料费)

付款方式:货到验收合格后付款,如有其他付款要求,请在竞价时注明

收货地址:浙江省/宁波市/镇海区/****

备注说明:1.需要送货上门,安装调试,不接受快递物流 2.需要全新正品

采购明细

序号 采购内容 数量/单位 预算单价 品牌 型号 规格参数 质保及售后服务 附件
1 数智化半导体参数实测分析平台 1.0 *开通会员可解锁*.0 曾益慧创 IECUBE-3835 [{"key":"1","value":"1、平台集成不少于2个独立的源测量单元SMU通道(支持加压测流、加流测压);\n2、源测量单元SMU通道支持的电压范围均不小于±10V,SMU的最大输出/测量电流不低于±200mA;\n3、源测量单元SMU电压施加精度不低于±1mV,电压测量分辨率不低于1uV;\n4、源测量单元SMU电流测量支持多量程,在最小量程(±20μA)下的分辨率不低于100pA,精度不低于±10nA,在最大量程(±200mA)下的分辨率不低于1μA,精度不低于±500μA;\n5、源测量单元SMU支持采样率配置,可用采样率为5、10、25、50、100、250、500、1250、2500、5000;\n6、源测量单元SMU带独立的触发端口,提供不少于1个独立的可编程触发端口(BNC接口),支持输入/输出功能,触发端口的最大输入/输出电压不低于5V,兼容TTL电平;\n7、平台集成LCR表,提供不少于1通道,频率范围不低于50Hz-2MHz,频率分辨率不低于10Hz; \n8、LCR表绝对误差不超过+/-0.2%,,电阻测量范围不小于0.1Ω - 1MΩ,电容测量范围不小于0.1pF - 1mF,电感测量范围不小于10nH - 100H; \n9、平台集成逻辑分析仪,提供不少于34通道,其中数据通道不少于32个,时钟通道不少于2个;\n10、逻辑分析仪最大采样率不低于1GS/s,输入电压范围不小于0V - 5V;\n11、逻辑分析仪支持SPI、I2C、UART、CAN等多种常见通信协议的硬件解码功能;\n12、逻辑分析仪输入阈值可调范围不小于0V - 2V,阈值精度不低于350mV,触发分辨率不低于1ns;\n13、平台集成示波器,提供不少于4通道,不低于350MHz最大带宽,每通道最大采样率不低于1.5GS/s; \n14、示波器输入耦合支持DC或AC,输入阻抗可调,垂直灵敏度调节范围不小于200μV/div - 4V/div;\n15、平台集成任意波形发生器,提供不少于1通道,分辨率不低于14bits,最大带宽不低于20MHz,最大更新率不低于125MS/s;\n16、任意波形发生器在50Ω负载下,输出电压峰值不小于±6V,在高阻(>10kΩ)负载下,输出电压峰值不小于±12V;\n17、任意波形发生器支持导入自定义波形文件,兼容csv、.txt等格式;\n18、平台集成可编程电源,提供不少于三路独立输出,其中至少一路输出电压范围不小于0-6V,最大输出电流不低于3A,以及至少两路隔离输出,输出电压范围分别为不小于0-+25V和0- -25V,每路最大输出电流不低于1A;\n19、可编程电源支持电压和电流的实时编程与回读功能;\n20、平台集成数字万用表,支持直流/交流电压、直流/交流电流、电阻(2线)、二极管、通断测试等功能,分辨率不低于5位半,最大共模电压不小于300V DC或265V AC(rms);\n21、平台集成数字IO,提供不少于8通道,每通道支持独立编程控制,输入电压范围不小于0V - 5V TTL,输出电压支持3.3V LVTTL;\n22、平台集成处理器,搭载不小于8G内存和256G硬盘,提供不小于13.3寸的可触控主屏幕,分辨率不低于1920*1080;\n23、平台配套专用半导体参数测试软件,软件需包含I-V测试仪、C-V测试仪、任意波形发生器、源测量单元、电源、示波器等仪器软面板,软面板可自由配置仪器参数,支持测量曲线和参数数据的完整展示和查看;\n24、专用半导体参数测试软件支持实验操作过程的自动记录与导出功能;\n25、平台集成可触控交互侧屏(区别于可触控主屏幕),配套实验对应的教学知识点原理动画或视频展示以及实验原理、实验操作及结果记录等指导图文展示软件;\n26、平台开放硬件的LabVIEW、Python、C API接口,支持二次开发; \n27、平台支持通过互联网进行远程访问和仪器控制;\n28、平台提供AI助教功能,支持与学生进行互动对话,基于学生的提问和学生过程性实验数据引导学生完成实验;\n29、平台配套实验线缆、实验板卡、被测对象及完整的实验指导书,覆盖实验需包括但不限于如下所示:PN结的直流特性测试与分析、肖特结构的CV特性与势垒高度测量、BJT直流参数的测量、MOSFET直流交流参数的测量、BJT特征频率的测量、MOSFET动态开关特性测试、MOSFET的低频CV特性测量、分立器件运算放大器测试、集成运算放大器参数测试、数字集成电路单元的工艺流程设计; \n30、平台集成用于收纳被测对象、实验板卡和线缆等实验器材的储物抽屉。","important":true}] 1.原厂质保3年
2 数智化半导体参数实测分析平台 1.0 *开通会员可解锁*.0 比宣 BX-SA Bench [{"key":"1","value":"1、平台集成不少于2个独立的源测量单元SMU通道(支持加压测流、加流测压);\n2、源测量单元SMU通道支持的电压范围均不小于±10V,SMU的最大输出/测量电流不低于±200mA;\n3、源测量单元SMU电压施加精度不低于±1mV,电压测量分辨率不低于1uV;\n4、源测量单元SMU电流测量支持多量程,在最小量程(±20μA)下的分辨率不低于100pA,精度不低于±10nA,在最大量程(±200mA)下的分辨率不低于1μA,精度不低于±500μA;\n5、源测量单元SMU支持采样率配置,可用采样率为5、10、25、50、100、250、500、1250、2500、5000;\n6、源测量单元SMU带独立的触发端口,提供不少于1个独立的可编程触发端口(BNC接口),支持输入/输出功能,触发端口的最大输入/输出电压不低于5V,兼容TTL电平;\n7、平台集成LCR表,提供不少于1通道,频率范围不低于50Hz-2MHz,频率分辨率不低于10Hz; \n8、LCR表绝对误差不超过+/-0.2%,,电阻测量范围不小于0.1Ω - 1MΩ,电容测量范围不小于0.1pF - 1mF,电感测量范围不小于10nH - 100H; \n9、平台集成逻辑分析仪,提供不少于34通道,其中数据通道不少于32个,时钟通道不少于2个;\n10、逻辑分析仪最大采样率不低于1GS/s,输入电压范围不小于0V - 5V;\n11、逻辑分析仪支持SPI、I2C、UART、CAN等多种常见通信协议的硬件解码功能;\n12、逻辑分析仪输入阈值可调范围不小于0V - 2V,阈值精度不低于350mV,触发分辨率不低于1ns;\n13、平台集成示波器,提供不少于4通道,不低于350MHz最大带宽,每通道最大采样率不低于1.5GS/s; \n14、示波器输入耦合支持DC或AC,输入阻抗可调,垂直灵敏度调节范围不小于200μV/div - 4V/div;\n15、平台集成任意波形发生器,提供不少于1通道,分辨率不低于14bits,最大带宽不低于20MHz,最大更新率不低于125MS/s;\n16、任意波形发生器在50Ω负载下,输出电压峰值不小于±6V,在高阻(>10kΩ)负载下,输出电压峰值不小于±12V;\n17、任意波形发生器支持导入自定义波形文件,兼容csv、.txt等格式;\n18、平台集成可编程电源,提供不少于三路独立输出,其中至少一路输出电压范围不小于0-6V,最大输出电流不低于3A,以及至少两路隔离输出,输出电压范围分别为不小于0-+25V和0- -25V,每路最大输出电流不低于1A;\n19、可编程电源支持电压和电流的实时编程与回读功能;\n20、平台集成数字万用表,支持直流/交流电压、直流/交流电流、电阻(2线)、二极管、通断测试等功能,分辨率不低于5位半,最大共模电压不小于300V DC或265V AC(rms);\n21、平台集成数字IO,提供不少于8通道,每通道支持独立编程控制,输入电压范围不小于0V - 5V TTL,输出电压支持3.3V LVTTL;\n22、平台集成处理器,搭载不小于8G内存和256G硬盘,提供不小于13.3寸的可触控主屏幕,分辨率不低于1920*1080;\n23、平台配套专用半导体参数测试软件,软件需包含I-V测试仪、C-V测试仪、任意波形发生器、源测量单元、电源、示波器等仪器软面板,软面板可自由配置仪器参数,支持测量曲线和参数数据的完整展示和查看;\n24、专用半导体参数测试软件支持实验操作过程的自动记录与导出功能;\n25、平台集成可触控交互侧屏(区别于可触控主屏幕),配套实验对应的教学知识点原理动画或视频展示以及实验原理、实验操作及结果记录等指导图文展示软件;\n26、平台开放硬件的LabVIEW、Python、C API接口,支持二次开发; \n27、平台支持通过互联网进行远程访问和仪器控制;\n28、平台提供AI助教功能,支持与学生进行互动对话,基于学生的提问和学生过程性实验数据引导学生完成实验;\n29、平台配套实验线缆、实验板卡、被测对象及完整的实验指导书,覆盖实验需包括但不限于如下所示:PN结的直流特性测试与分析、肖特结构的CV特性与势垒高度测量、BJT直流参数的测量、MOSFET直流交流参数的测量、BJT特征频率的测量、MOSFET动态开关特性测试、MOSFET的低频CV特性测量、分立器件运算放大器测试、集成运算放大器参数测试、数字集成电路单元的工艺流程设计; \n30、平台集成用于收纳被测对象、实验板卡和线缆等实验器材的储物抽屉。","important":true}] 1.原厂质保3年
3 数智化半导体参数实测分析平台 1.0 *开通会员可解锁*.0 迪曼 DM-8100 [{"key":"1","value":"1、平台集成不少于2个独立的源测量单元SMU通道(支持加压测流、加流测压);\n2、源测量单元SMU通道支持的电压范围均不小于±10V,SMU的最大输出/测量电流不低于±200mA;\n3、源测量单元SMU电压施加精度不低于±1mV,电压测量分辨率不低于1uV;\n4、源测量单元SMU电流测量支持多量程,在最小量程(±20μA)下的分辨率不低于100pA,精度不低于±10nA,在最大量程(±200mA)下的分辨率不低于1μA,精度不低于±500μA;\n5、源测量单元SMU支持采样率配置,可用采样率为5、10、25、50、100、250、500、1250、2500、5000;\n6、源测量单元SMU带独立的触发端口,提供不少于1个独立的可编程触发端口(BNC接口),支持输入/输出功能,触发端口的最大输入/输出电压不低于5V,兼容TTL电平;\n7、平台集成LCR表,提供不少于1通道,频率范围不低于50Hz-2MHz,频率分辨率不低于10Hz; \n8、LCR表绝对误差不超过+/-0.2%,,电阻测量范围不小于0.1Ω - 1MΩ,电容测量范围不小于0.1pF - 1mF,电感测量范围不小于10nH - 100H; \n9、平台集成逻辑分析仪,提供不少于34通道,其中数据通道不少于32个,时钟通道不少于2个;\n10、逻辑分析仪最大采样率不低于1GS/s,输入电压范围不小于0V - 5V;\n11、逻辑分析仪支持SPI、I2C、UART、CAN等多种常见通信协议的硬件解码功能;\n12、逻辑分析仪输入阈值可调范围不小于0V - 2V,阈值精度不低于350mV,触发分辨率不低于1ns;\n13、平台集成示波器,提供不少于4通道,不低于350MHz最大带宽,每通道最大采样率不低于1.5GS/s; \n14、示波器输入耦合支持DC或AC,输入阻抗可调,垂直灵敏度调节范围不小于200μV/div - 4V/div;\n15、平台集成任意波形发生器,提供不少于1通道,分辨率不低于14bits,最大带宽不低于20MHz,最大更新率不低于125MS/s;\n16、任意波形发生器在50Ω负载下,输出电压峰值不小于±6V,在高阻(>10kΩ)负载下,输出电压峰值不小于±12V;\n17、任意波形发生器支持导入自定义波形文件,兼容csv、.txt等格式;\n18、平台集成可编程电源,提供不少于三路独立输出,其中至少一路输出电压范围不小于0-6V,最大输出电流不低于3A,以及至少两路隔离输出,输出电压范围分别为不小于0-+25V和0- -25V,每路最大输出电流不低于1A;\n19、可编程电源支持电压和电流的实时编程与回读功能;\n20、平台集成数字万用表,支持直流/交流电压、直流/交流电流、电阻(2线)、二极管、通断测试等功能,分辨率不低于5位半,最大共模电压不小于300V DC或265V AC(rms);\n21、平台集成数字IO,提供不少于8通道,每通道支持独立编程控制,输入电压范围不小于0V - 5V TTL,输出电压支持3.3V LVTTL;\n22、平台集成处理器,搭载不小于8G内存和256G硬盘,提供不小于13.3寸的可触控主屏幕,分辨率不低于1920*1080;\n23、平台配套专用半导体参数测试软件,软件需包含I-V测试仪、C-V测试仪、任意波形发生器、源测量单元、电源、示波器等仪器软面板,软面板可自由配置仪器参数,支持测量曲线和参数数据的完整展示和查看;\n24、专用半导体参数测试软件支持实验操作过程的自动记录与导出功能;\n25、平台集成可触控交互侧屏(区别于可触控主屏幕),配套实验对应的教学知识点原理动画或视频展示以及实验原理、实验操作及结果记录等指导图文展示软件;\n26、平台开放硬件的LabVIEW、Python、C API接口,支持二次开发; \n27、平台支持通过互联网进行远程访问和仪器控制;\n28、平台提供AI助教功能,支持与学生进行互动对话,基于学生的提问和学生过程性实验数据引导学生完成实验;\n29、平台配套实验线缆、实验板卡、被测对象及完整的实验指导书,覆盖实验需包括但不限于如下所示:PN结的直流特性测试与分析、肖特结构的CV特性与势垒高度测量、BJT直流参数的测量、MOSFET直流交流参数的测量、BJT特征频率的测量、MOSFET动态开关特性测试、MOSFET的低频CV特性测量、分立器件运算放大器测试、集成运算放大器参数测试、数字集成电路单元的工艺流程设计; \n30、平台集成用于收纳被测对象、实验板卡和线缆等实验器材的储物抽屉。","important":true}] 1.原厂质保3年
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