标的名称：环境可靠性设备 数量/单位：1/批 预算金额（元）：*开通会员可解锁*.00

采购目录：A02109900其他仪器仪表

需实现的主要功能或者目标：包括：回流焊（拥有至少10个单独加热区间，最大温度应大于260℃。满足JESD22-A113I中关于回流焊设备的试验要求。）、高低温存储箱（适用于半导体元器件试验，满足JESD22-A113I中关于高温烘干，AQG 324-2025中HTS与LTS试验的要求。）、高温高湿试验箱（适用于半导体元器件试验，满足85℃/85%RH试验条件，符合AECQ-102标准要求。）、温度冲击试验箱（适用于半导体器件使用，吊篮式结构，满足AQG 324-2025中TS试验的要求。）、三综合电磁振动台（适用于半导体器件的振动试验，配有配套的三综合环境试验箱，振动台需满足AQG 324-2025中MS与V试验的要求。）

需满足的质量、服务、安全、时限等要求： 达到采购人要求；达到采购人要求； 达到采购人要求； 达到采购人要求。

标的名称：电应力可靠性设备 数量/单位：1/批 预算金额（元）：8580000.00

采购目录：A02109900其他仪器仪表

需实现的主要功能或者目标：包括：高温反偏试验箱（热板）（适用于半导体用高温反偏试验，满足AQG 324-2025中HTRB的要求。）、高温栅偏试验箱（热板）（适用于半导体用高温栅偏试验，满足AQG 324-2025中HTGB的要求。）、高加速应力试验箱（带电）（适用于半导体用高加速应力箱，配有上电能力，满足JESD22-A118B.01的相关试验要求。）、间歇寿命试验系统（适用于半导体器件的间歇寿命试验装置，具有串联与并联试验能力，满足AECQ-101中对iol试验的相关规定。）、动态栅偏试验系统（DGS）（适用于半导体器件的动态栅偏试验装置，满足AQG 324-2025中DGS的要求。）、动态反偏试验系统DRB（适用于半导体器件的动态反偏试验装置，满足AQG 324-2025中DRB的要求。）、功率循环测试系统（适用于半导体器件的功率循环试验装置，试验电流3000A以上，满足AQG 324-2025中PC试验的要求。）

需满足的质量、服务、安全、时限等要求： 达到采购人要求；达到采购人要求； 达到采购人要求； 达到采购人要求。

标的名称：氦质谱检漏仪 数量/单位：1/套 预算金额（元）：200000.00

采购目录：A02109900其他仪器仪表

需实现的主要功能或者目标：满足GJB 360B-2009、GJB 128B-2021、GJB 548C-2021标准中规定的对电子和半导体器件的检漏要求

需满足的质量、服务、安全、时限等要求： 达到采购人要求；达到采购人要求； 达到采购人要求； 达到采购人要求。