高温数模混合集成电路测试系统
发布时间：
2026-01-23
发布于
北京朝阳
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后查看完整商机。全国免费咨询热线:400-888-7022| 高温数模混合集成电路测试系统 | |
| 项目所在采购意向： | 中国科学院微电子研究所2026年2至6月政府采购意向 |
| 采购单位： | 中国科学院微电子研究所 |
| 采购项目名称： | 高温数模混合集成电路测试系统 |
| 预算金额： | 400.000000万元(人民币) |
| 采购品目： | A02110205-集成电路参数测量仪 |
| 采购需求概况 ： | 标的名称：高温数模混合集成电路测试系统 主要功能：高温数模混合集成电路测试系统主要用于自动化测试运算放大器、模拟开关、数模转换器、电源电路、数字接口电路在高温条件下的功能和动态参数，补充高精度模拟和数模混合电路动态参数测试评价能力方面的不足，保障关键核心芯片的研制。 标的数量：1台/套 |
| 预计采购时间： | 2026-05 |
| 备注： | |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
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