是否接受进口

接受进口

品牌

Nenovision

型号

LiteScope

生产厂商

NenoVision s.r.o.

产地信息

捷克

技术规格及参数

1. 技术参数1.1 AFM扫描范围：我司设备开环扫描范围：100μm x 100μm x 20μm，闭环扫描范围：80μm x 80μm x 16μm。我司设备可以满足不同尺度的分析需求。1.2 AFM扫描器分辨率： 我司设备扫描器Z轴分辨率优于0.05nm，可以确保形貌测量的准确性。1.3 成像噪声： 我司设备成像噪声水平优于40 pm（皮米），可以保证高质量成像。1.4 测量模式： 我司设备标配支持SSRM（扫描扩展电阻显微镜）、C-AFM（导电原子力显微镜）、EFM（静电力显微镜）、I-V curves（电流-电压曲线）、F-z curves（力距离曲线）、能量耗散、相位成像、时间分辨谱、AFM轻敲形貌模式。我司设备可以用于定量分析半导体器件的掺杂浓度和掺杂分布。1.5 兼容性： 我司设备可安装在主流品牌的SEM/FIB-SEM系统中（如赛默飞、蔡司、TESCAN、日立、JEOL等），不破坏原有SEM性能，并且具备快速、可靠且高度重复的安装与拆卸能力，便于在SEM样品台上进行操作。1.6 联用能力：我司设备可以同时、同位置原位同步采集AFM和SEM的图像，可以确保获得时空对应的关联图像。1.7 样品尺寸：我司设备的最大样品尺寸为50mm x 50mm x 8mm、重量不小于100g，可以确保适应多种形态的试样。1.8 探针系统： 我司设备采用自感知探针技术，无需传统激光光路检测系统，避免对SEM电子束产生干扰，可实现SEM与AFM同时运行，同时简化操作流程。1.9 AFM扫描模块：我司设备重量小于495克，保证安装在SEM样品台上不会损坏SEM设备。并且我司设备可以不依靠SEM独立运行所有功能。1.10 安装便利性:我司AFM安装在SEM中时不得对SEM造成任何永久性的改变、不得在SEM舱室内安装永久性部件，安装、拆卸时间小于8分钟。1.11 操作系统:我司设备的操作系统可以通过局域网、Wifi等方式远程登录，进行参数查阅、远程操作、远程监控、设备状态检查和数据调阅。2. 配置清单：2.1 我司设备包括可安装于SEM/FIB舱室内的AFM主机 1套2.2 我司设备包括自感应式AFM探针 若干2.3 我司设备提供SSRM、C-AFM、EFM、I-V curves、F-z curves、能量耗散、相位成像、时间分辨谱等模块 1套

质保期

质保期：1年

售后要求

1. 质保期：我司提供制造商免费质保 1 年，时间自最终验收合格并交付使用之日起计算，在保修期内，一旦发生质量问题，我司保证在接到通知48小时内赶到现场进行修理或更换，保修期间维修及零件更换费用由我司负担。由制造商提供质保服务，由制造商提供售后服务。如未按上述约定，在收到通知后2个工作日内维修或更换不符或有缺陷的货物或部件，则甲方有权采取必要的补救措施并追究我司的违约责任，由此导致的责任和费用由我司承担。 2. 维修响应时间：前述保修期内，如本合同项下的货物出现损坏和故障，则我司应在接到甲方通知后48小时内赶到现场免费予以维修或调换并无条件免费提供所需的零部件。并在48小时内解决问题，如在规定时间内不能解决设备故障，应提供相同档次、功能的设备给招标人代用。 3. 验收标准：根据招标要求及双方所签订的技术协议书逐条验收，设备经过双方检验认可后，签署验收报告，产品保修期自验收合格之日起算，由我司提供产品保修文件。 以下条件时，采购人才向我司签发货物验收报告： a、中标人已按照合同规定提供了全部产品及完整的技术资料； b、货物符合招标文件技术规格书的要求，性能满足要求； c、货物具备产品合格证。 4. 技术培训：我司在用户所在地对用户给予一年内免费搬迁已安装调试完毕的合同货物1次、免费调试已安装调试完毕的本合同项下货物1次、免费培训服务1次。